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              恒溫恒濕試驗箱的測試流程是怎么樣的?
            2. 日期:2022-12-15      瀏覽次數(shù):1226
              • 恒溫恒濕試驗箱的測試流程是怎么樣的?

                產(chǎn)品需要在高低溫的環(huán)境下測試其性能,市場上的恒溫恒濕試驗箱的測試流程是怎么樣的呢?... 產(chǎn)品需要在高低溫的環(huán)境下測試其性能,市場上的恒溫恒濕試驗箱的測試流程是怎么樣的呢? 展開

                      1、在樣品斷電的狀態(tài)下,先將溫度下降到-50℃,保持4個小時;請勿在樣品通電的狀態(tài)下進行低溫測試,非常重要,因為通電狀態(tài)下,芯片本身就會產(chǎn)生20℃以上溫度,所以,在通電狀態(tài)下,通常比較容易通過低溫測試,必須先將其“凍透",再次通電進行測試。

                      2、開機,對樣品進行性能測試,對比性能與常溫相比是否正常。

                     3.進行老化測試,觀察是否有數(shù)據(jù)對比錯誤。

                     4、升溫到 90℃,保持4個小時,與低溫測試相反,升溫過程不斷電,保持芯片內(nèi)部的溫度-直處于高溫狀態(tài),4個小時后,執(zhí)行2、3、4測試步驟。

                      5、高溫和低溫測試分別重復(fù)10次。

                如果測試過程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài),則視為測試失敗。