2. 產(chǎn)品型號(hào)

SMB-80PF

3. 試樣限制

本試驗(yàn)設(shè)備禁止：

①易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

②腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

③生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

④強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

4. 容積、尺寸和重量

4.1.標(biāo)稱內(nèi)容積

80L

4.2.內(nèi)型尺寸

W400*H500*D400mm

4.3.外型尺寸

W1050*H950*D850mm

4.4.重量

約 135 ㎏

5. 性能

5.1. 測(cè)試環(huán)境條件

5.2. 測(cè)試方法

環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無(wú)試樣條件下

GB/T 5170.2-1996 溫度試驗(yàn)設(shè)備。

5.8.濕度偏差

±2.5%RH

5.9.升溫時(shí)間

+20℃→+150℃ 約 35min (升溫速率：約 3.5℃/ min)

5.10. 降溫時(shí)間

+20℃→0℃ 約 15min (升溫速率：約 1.0℃/ min)

5.11. 負(fù)載情況

空載

①GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

②GB/T 2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

③GJB 150.3-1986 高溫試驗(yàn)

④GJB 150.4-1986 低溫試驗(yàn)

5.12. 滿足試驗(yàn)

⑤IEC68-2-1 試驗(yàn)A：寒冷.

標(biāo)準(zhǔn)

⑥GB 11158《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

⑦GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：

高溫試驗(yàn)方法》.

⑧GB/T10586-89 濕熱試驗(yàn)箱條件

⑨GT/T2423.3-93、GT/T2423.4-93 濕熱試驗(yàn)箱條件