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              可編程式恒溫恒濕測試儀用于電腦芯片測試

              簡要描述:

              可編程式恒溫恒濕測試儀用于電腦芯片測試
              可程式恒溫恒濕試驗箱試驗機(jī)適用電子、電工、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱試驗箱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的使用性試驗。

              型號:SMD-150PF 瀏覽量:2359
              更新時間:2023-10-24 是否能訂做:是

              恒溫恒濕試驗機(jī)、恒溫恒濕實(shí)驗箱、可程式濕熱交變試驗箱、恒溫機(jī)或恒溫恒濕箱,用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質(zhì)量之用。符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008試驗A、GB/T2423.2-2008試驗B、GB/T2423.3-2006試驗Ca、GB/T2423.4-2008試驗

              可編程式恒溫恒濕測試儀用于電腦芯片測試

              型號:SMD-150PF

              外形尺寸:500*500*400

              內(nèi)箱尺寸:750*1224*1615

              可編程式恒溫恒濕測試儀用于電腦芯片測試

              技術(shù)指標(biāo)

              1、溫度范圍:-60℃~150℃

              2、濕度范圍:30~98%RH(溫度在25℃~80℃時)

              3、溫度均勻度:≤2℃ (空載時)

              4、濕度均勻度:+2、-3%RH

              5、溫度波動度:±0.5℃ (空載時)

              6、濕度波動度:±2%

              7、溫度偏差:±2℃

              8、濕度偏差:±2%

              9、降溫速率:0.7~1.0℃/min

              10、升溫速度:1.0~3.0℃/min

              11、時間設(shè)定范圍:1~9999H

              12、濕度交變范圍:40~98%RH

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